【國際論壇】Low Power Design and Predictive Failure Analytics in Silicon

【國際論壇】

題:Low Power Design and Predictive Failure Analytics in Silicon

師:Dr. Rajiv V. JoshiIBM Research Division, USA, IEEE fellow, IET fellow

主持人:國立成功大學電機系邱瀝毅教授

活動時間:1050429() 10:3012:00am

活動地點:國立成功大學電機系館1靄雲廳

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程:

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Best Regards,

Ching-Fang.

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國立成功大學電機工程學系

綠能電子(GE)聯盟助理謝青芳

Tel: 06-2757575 ext.62400-2864 / 06-2756164

E-mail:Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

Add: 70101台南市大學路1號成大電機系奇美樓395307

GE Web:http://geec.ee.ncku.edu.tw/

Event Properties

活動開始日期 2016-04-29 10:30 am
Event End Date 2016-04-29 12:00 pm
Cut off date 2016-04-28
Individual Price Free
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